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Produktdetails:
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Produktname: | Einzelnes Kristallsubstrat GaN | Maße: | ± 50,8 1 Millimeter |
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Stärke: | 350 ±25µm | Orientierung: | C-Fläche (0001) weg vom Winkel in Richtung zur M-Achse |
TTV: | ≤ 10µm | Bogen: | ≤ 20 μm |
Makrodefekt-Dichte: | ² 0cm⁻ | Verwendbarer Bereich: | > 90% (Randausschluß) |
Hervorheben: | Gallium-Nitrid-Halbleiterwafer,Flache gan Oblate epi C,Halbleiterwafer 325um |
2 Zoll freistehende Si--GaNsubstrate
Eine Epitaxial- Oblate (nannte auch epi Oblate, Epioblate oder epiwafer), ist eine Oblate des Halbleitermaterials gemacht durch Epitaxie (Epitaxie) für Gebrauch in der Photonik, in der Mikroelektronik, in den Spintroniken oder im photovoltaics.
Dünne Epi-Oblaten sind für Vorderkante MOS-Geräte allgemein verwendet. Starkes Epi oder vielschichtige Epitaxial- Oblaten werden für die Geräte hauptsächlich verwendet, um elektrischen Strom zu steuern, und sie tragen zum Verbessern der Leistungsfähigkeit des Energieverbrauchs bei.
2 Zoll freistehende Si--GaNsubstrate | ||||||||
Ausgezeichnetes Niveau (S) | Produktionsebene (a) | Forschungsniveau (b) | Blindes Niveau (c) |
Anmerkung: (1) verwendbarer Bereich: Rand und Makrodefektausschluß (2) 3 Punkte: das miscut angelt von den Positionen (2, 4, 5) sind 0,35 ± 0,15O |
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S-1 | S-2 | A-1 | A-2 | |||||
Maß | ± 50,8 1 Millimeter | |||||||
Stärke | 350 ± 25 μm | |||||||
Orientierungsebene | (1-100) ± 0,5O, ± 16 1 Millimeter | |||||||
Sekundärorientierungsebene | (11-20) ± 3O, ± 8 1 Millimeter | |||||||
Widerstandskraft (300K) | > 1 x 106 Ω·cm für das Halb-Isolieren (F.E.-lackiert; GaN-FS-C-SI-C50) | |||||||
TTV | ≤ 15 μm | |||||||
BOGEN | ≤ 20 μm | ≤ 40 μm | ||||||
GA-Gesichtsoberflächenrauigkeit |
< 0=""> oder < 0=""> |
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N-Gesichtsoberflächenrauigkeit |
0,5 μm ~1,5 Wahl: 1~3 Nanometer (feiner Boden); < 0=""> |
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Paket | Verpackt in einem Cleanroom im einzelnen Oblatenbehälter | |||||||
Verwendbarer Bereich | > 90% | >80% | >70% | |||||
Versetzungsdichte | <9>cm2 x105 | <3x10>6 cm2 | <9>5 cm2 | <3>cm2 x106 | <3x10>6 cm2 | |||
Orientierung: C-Fläche (0001) weg vom Winkel in Richtung zur M-Achse |
0,35 ± 0,15O (3 Punkte) |
0,35 ± 0,15O (3 Punkte) |
0,35 ± 0,15O (3 Punkte) |
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Makrodefektdichte (Loch) | 0 cm2 | < 0="">-2 | < 1="" cm="">-2 | |||||
Maximale Größe von Makrodefekten | < 700=""> | < 2000=""> | < 4000=""> |
* nationale Standards von China (GB/T32282-2015)
Über uns
Wir spezialisieren uns, auf, eine Vielzahl von Materialien zu den Oblaten, zu Substraten und zu kundengebundenem optischem Glas-parts.components zu verarbeiten, die auf Elektronik, Optik, Opto Elektronik und vielen anderen Gebieten weitverbreitet sind. Wir auch haben nah mit vielen inländischen gearbeitet und Überseeuniversitäten, Forschungsinstitutionen und Firmen, stellen kundengebundene Produkt und Service für ihre R&D-Projekte zur Verfügung. Es ist unsere Vision zum Beibehalten eines guten Verhältnisses von Zusammenarbeit mit unseren allen Kunden durch unsere guten Rufe.
FAQ
Q: Sind Sie Handelsgesellschaft oder Hersteller?
Wir sind Fabrik.
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Im Allgemeinen ist es 3-5 Tage, wenn die Waren auf Lager sind.
oder es ist 7-10 Tage, wenn die Waren nicht auf Lager sind, es ist entsprechend Quantität.
Q: Stellen Sie Proben zur Verfügung? ist es frei oder Extra?
Ja könnten wir, die Probe für freie Gebühr anbieten aber tragen nicht die Frachtkosten.
Q: Was ist Ihre Zahlungsfristen?
Zahlungs- <>
Zahlung >=5000USD, 80% T/T im Voraus, Balance vor Versand.
Ansprechpartner: Xiwen Bai (Ciel)
Telefon: +8613372109561