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Un-dotierter GaN-Epitaxialwafer M steht freistehenden GaN-Substraten gegenüber

Bescheinigung
CHINA Shanghai GaNova Electronic Information Co., Ltd. zertifizierungen
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Un-dotierter GaN-Epitaxialwafer M steht freistehenden GaN-Substraten gegenüber

Un-dotierter GaN-Epitaxialwafer M steht freistehenden GaN-Substraten gegenüber
Un-dotierter GaN-Epitaxialwafer M steht freistehenden GaN-Substraten gegenüber

Großes Bild :  Un-dotierter GaN-Epitaxialwafer M steht freistehenden GaN-Substraten gegenüber

Produktdetails:
Herkunftsort: Suzhou China
Markenname: GaNova
Zertifizierung: UKAS/ISO9001:2015
Modellnummer: JDCD01-001-007
Zahlung und Versand AGB:
Verpackung Informationen: Vakuumverpackung in einer Reinraumumgebung der Klasse 10000, in Kassetten mit 6 Stück oder Einzelwaf
Lieferzeit: 3-4 Wochentage
Zahlungsbedingungen: T/T
Versorgungsmaterial-Fähigkeit: 10000pcs/Month

Un-dotierter GaN-Epitaxialwafer M steht freistehenden GaN-Substraten gegenüber

Beschreibung
Produktname: Freistehender GaN Substrate Maße: 5 x 10 Millimeter ²
Stärke: 350 ±25µm TTV: ≤ 10µm
Bogen: - 10µm ≤ BOGEN ≤ 10µm Makrodefekt-Dichte: ² 0cm⁻
Hervorheben:

Un dotierter GaN-Epitaxie-Wafer

,

freistehende GaN-Substrate

,

GaN-Epitaxie-Wafer M-Fläche

5 x 10 mm2M Face freistehende GaN-Substrate 350 ±25 µm TTV ≤ 10 µm

5 * 10,5 mm2M-Fläche Undotiertes freistehendes GaN-Einkristallsubstrat vom n-Typ Widerstand < 0,1 Ω·cm Leistungsbauelement/Laserwafer

 


Überblick
Das GaN-Substrat hat eine beschädigungsfreie, sehr flache (Rms < 0,2 nm), kontrollierte Oberflächenorientierung und kontrollierte atomare Stufenoberflächen.Es wurde eine für epitaxiales Wachstum geeignete Oberflächenqualität erreicht.

Laserdioden: violette LD, blaue LD und grüne LD
Leistungselektronische Geräte, Hochfrequenzelektronische Geräte

 

M FAs Free-stUndichNG GAN SubstRaTeS
Artikel

GaN-FS-MUS

 

GaN-FS-MNS

 

GaN-FS-M-SI-S

 

 

 

 

 

 

 

 

Un-dotierter GaN-Epitaxialwafer M steht freistehenden GaN-Substraten gegenüber 0

 

 

Bemerkungen:

Zur Unterscheidung von Vorder- und Rückseite wird ein Kreisbogenwinkel (R < 2 mm) verwendet.

Maße 5 x 10 mm2
Dicke 350 ±25 µm
Orientierung

M-Ebene (1-100) Abweichungswinkel zur A-Achse 0 ±0,5°

M-Ebene (1-100) Abweichungswinkel zur C-Achse - 1 ±0,2°

Leitungstyp N-Typ N-Typ Halbisolierend
Widerstand (300 K) < 0,1 Ω·cm < 0,05 Ω·cm > 106Ω·cm
TTV ≤ 10 µm
BOGEN - 10 µm ≤ BOGEN ≤ 10 µm
Rauheit der Vorderseite

< 0,2 nm (poliert);

oder < 0,3 nm (poliert und Oberflächenbehandlung für Epitaxie)

Rauheit der Rückseite

0,5 ~ 1,5 μm

Option: 1~3 nm (fein geschliffen);< 0,2 nm (poliert)

Versetzungsdichte Ab 1 x 105bis 3 x 106cm-2
Makrodefektdichte 0cm-2
Nutzfläche > 90 % (Randausschluss)
Paket Verpackt in einer Reinraumumgebung der Klasse 100, in einem 6-PCS-Behälter, unter einer Stickstoffatmosphäre

 

Anhang: Das Diagramm des Fehlschnittwinkels

Un-dotierter GaN-Epitaxialwafer M steht freistehenden GaN-Substraten gegenüber 1

 

 

Wenn δ1= 0 ±0,5 Grad, dann beträgt der Abweichungswinkel der M-Ebene (1-100) zur A-Achse 0 ±0,5 Grad.

Wenn δ2= - 1 ± 0,2 Grad, dann beträgt der Abweichungswinkel der M-Ebene (1-100) zur C-Achse - 1 ± 0,2 Grad.

 

 

 

Über uns

Wir sind spezialisiert auf die Verarbeitung einer Vielzahl von Materialien zu Wafern, Substraten und kundenspezifischen optischen Glasteilen. Komponenten, die in der Elektronik, Optik, Optoelektronik und vielen anderen Bereichen weit verbreitet sind.Wir haben auch eng mit vielen inländischen und ausländischen Universitäten, Forschungseinrichtungen und Unternehmen zusammengearbeitet und bieten maßgeschneiderte Produkte und Dienstleistungen für ihre F&E-Projekte an.Es ist unsere Vision, durch unseren guten Ruf eine gute Beziehung der Zusammenarbeit mit allen unseren Kunden aufrechtzuerhalten.

 

 

FAQ

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Kontaktdaten
Shanghai GaNova Electronic Information Co., Ltd.

Ansprechpartner: Xiwen Bai (Ciel)

Telefon: +8613372109561

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