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GaN-Einkristall-Galliumnitrid-Wafer SI-Typ

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CHINA Shanghai GaNova Electronic Information Co., Ltd. zertifizierungen
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GaN-Einkristall-Galliumnitrid-Wafer SI-Typ

GaN-Einkristall-Galliumnitrid-Wafer SI-Typ
GaN-Einkristall-Galliumnitrid-Wafer SI-Typ

Großes Bild :  GaN-Einkristall-Galliumnitrid-Wafer SI-Typ

Produktdetails:
Herkunftsort: Suzhou China
Markenname: GaNova
Zertifizierung: UKAS/ISO9001:2015
Modellnummer: JDCD01-001-018
Zahlung und Versand AGB:
Verpackung Informationen: Vakuumverpackung in einer Reinraumumgebung der Klasse 10000, in Kassetten mit 6 Stück oder Einzelwaf
Lieferzeit: 3-4 Wochentage
Zahlungsbedingungen: T/T
Versorgungsmaterial-Fähigkeit: 10000pcs/Month

GaN-Einkristall-Galliumnitrid-Wafer SI-Typ

Beschreibung
Maße: 5 x 10mm ² Produktname: freistehender GaN Substrates
Stärke: 350 ±25µm TTV: ≤ 10µm
Versetzungsdichte: Von ⁵ 1 x 10 zu 3 x 10 ⁶ cm⁻ ² Makrodefekt-Dichte: ² 0cm⁻
Hervorheben:

GaN-Galliumnitrid-Wafer

,

Gan-Halbleitersubstrat

,

Galliumnitrid-Wafer vom SI-Typ

5 * 10,5 mm2SP-Fläche (20-21)/(20-2-1) Undotiertes freistehendes GaN-Einkristallsubstrat vom SI-Typ Widerstand > 106Ω·cm HF-Bauelemente-Wafer

 


Überblick

Galliumnitrid (GaN) Substrat ist ein hochwertiges Einkristallsubstrat.Es wird mit der ursprünglichen HVPE-Methode und der Wafer-Verarbeitungstechnologie hergestellt, die ursprünglich seit vielen Jahren entwickelt wurde.Die Merkmale sind hochkristallin, gute Gleichmäßigkeit und hervorragende Oberflächenqualität.

 

 

(20-21)/(20-2-1) FAce Free-stAndichNG GAN SubstRaTeS
Artikel

GaN-FS-SP-US

GaN-FS-SP-NS

GaN-FS-SP-SI-S

 

 

 

 

 

 

 

GaN-Einkristall-Galliumnitrid-Wafer SI-Typ 0

 

Bemerkungen:

Zur Unterscheidung von Vorder- und Rückseite wird ein Kreisbogenwinkel (R < 2 mm) verwendet.

Maße 5 x 10 mm2
Dicke 350 ±25 µm
Orientierung

(20-21)/(20-2-1) Planabweichungswinkel zur A-Achse 0 ±0,5°

(20-21)/(20-2-1) Planabweichungswinkel zur C-Achse - 1 ±0,2°

Leitungstyp N-Typ N-Typ Halbisolierend
Widerstand (300 K) < 0,1 Ω·cm < 0,05 Ω·cm > 106Ω·cm
TTV ≤ 10 µm
BOGEN - 10 µm ≤ BOGEN ≤ 10 µm
Rauheit der Vorderseite

< 0,2 nm (poliert);

oder < 0,3 nm (poliert und Oberflächenbehandlung für Epitaxie)

Rauheit der Rückseite

0,5 ~ 1,5 μm

Option: 1~3 nm (fein geschliffen);< 0,2 nm (poliert)

Versetzungsdichte Ab 1 x 105bis 3 x 106cm-2
Makrodefektdichte 0cm-2
Nutzfläche > 90 % (Randausschluss)
Paket Verpackt in einer Reinraumumgebung der Klasse 100, in einem 6-PCS-Behälter, unter einer Stickstoffatmosphäre

 

Anhang: Das Diagramm des Fehlschnittwinkels

GaN-Einkristall-Galliumnitrid-Wafer SI-Typ 1

 

Wenn δ1= 0 ±0,5°, dann ist der (20-21)/(20-2-1) Ebenenabweichungswinkel zur A-Achse 0 ±0,5°.

Wenn δ2= - 1 ±0,2°, dann ist der (20-21)/(20-2-1) Ebenenversatzwinkel in Richtung der C-Achse -1 ±0,2°.

 

Über uns

Wir sind spezialisiert auf die Verarbeitung einer Vielzahl von Materialien zu Wafern, Substraten und kundenspezifischen optischen Glasteilen. Komponenten, die in der Elektronik, Optik, Optoelektronik und vielen anderen Bereichen weit verbreitet sind.Wir haben auch eng mit vielen inländischen und ausländischen Universitäten, Forschungseinrichtungen und Unternehmen zusammengearbeitet und bieten maßgeschneiderte Produkte und Dienstleistungen für ihre F&E-Projekte an.Es ist unsere Vision, durch unseren guten Ruf eine gute Beziehung der Zusammenarbeit mit allen unseren Kunden aufrechtzuerhalten.

 

 

FAQ

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Zahlung <=5000USD, 100% im Voraus.
Paymen >=5000USD, 80% T/T im Voraus, Restbetrag vor Versand.

Kontaktdaten
Shanghai GaNova Electronic Information Co., Ltd.

Ansprechpartner: Xiwen Bai (Ciel)

Telefon: +8613372109561

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